AFMworkshop-原子力显微镜-扫描探针显微镜

AFM WORKSHOP
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AMF轻巧模式是怎么优化的?

发布日期:2021-11-29 15:31:57   来源 : http://www.afmworkshop.cn/    作者 :杭州葛兰帕科技有限公司    浏览量 :327
杭州葛兰帕科技有限公司 http://www.afmworkshop.cn/ 发布日期:2021-11-29 15:31:57  
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AFM经过近二十年的科技发展,已经从AFM仪器实验室走向市场,由单纯的AFM仪器发展成为扫描探针显微镜,完善了其设计理论。


AFM

文章对扫描探针显微镜的基本结构及其各个环节进行了深入的研究与分析,以扫描探针显微镜的理论为基础,在先前的激光力显微镜的基础上,对扫描探针显微镜的基本结构及其各个环节进行了重新设计。基于此,本文首次将相位探测技术与表面形貌测量相结合,提出一种新型的恒敲力控制反馈模型,实现了一种新的表面形貌测量方法,即恒敲力控制反馈模型。因为试样工作在轻敲模式下,周期性的试样接触导致探针振动中含有高次谐波成分,通过检测探针试样的问题,从而控制探针振幅,使敲击试样的力量保持不变,探针振幅的变化就会反映表面的形态。


采用这种方法,不但能很好地提高探针样品系统的反应时间,而且还能通过测量振动振幅,直接得到表面形貌的纵向定量值,为纵向标定提供了一种新的思路。针对AFM系统复杂度的特点,本文放弃了用理论建模的方法对系统精度进行分析,试图从系统辨识的角度对AFM精度进行练合,指出影响AFM精度与分辨率的主要因素。在此基础上,采用自行研制的AFM对大量样本进行了检测和分析。此外,对一些硬样品也作了重复试验,结果令人满意。


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原子力显微镜
扫描探针显微镜
AMF
中国浙江省杭州市江南大道3778号元天科技大厦A座6004室
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