AFMworkshop-原子力显微镜-扫描探针显微镜

AFM WORKSHOP
AFM Workshop is a company that prides itself on providing innovative AFM technology at affordable prices. The TT-AFM is a light lever AFM that is ideal for researchers, instrument builders, OEMs, and educators.

扫描探针显微镜的使用测量介绍

发布日期:2021-11-08 11:58:25   来源 : http://www.afmworkshop.cn/    作者 :杭州葛兰帕科技有限公司    浏览量 :349
杭州葛兰帕科技有限公司 http://www.afmworkshop.cn/ 发布日期:2021-11-08 11:58:25  
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扫描探针显微镜应用了一种特殊的先端显微技术,可以在纳米尺度下测试材料的物理特性,也可以呈现样品的表面形状。隧道显微镜和原子力显微镜是扫描探针显微镜中最重要的两种。


扫描探针

在AFM中,安装在对微弱极敏感的微悬臂上的探针。探针与样品接触时,由于其原子之间的作用力极弱,导致微悬臂偏转。扫描时控制这种作用力是恒定的,针尖的微悬臂会对应原子间作用力的等位面,在垂直于样品表面的方向上起伏,从而改变反射光的位置,造成偏移。通过光电检测系统(通常采用光学、电容或隧道电流方法)扫描微悬臂的偏转,测量微悬臂对应扫描各点的位置变化。此时,激光检测器将记录这一偏移,并将此时的信号给反馈系统,以便系统做出适当的调整。放大和转换信号,从而获得样品表面原子级的三维形态图像。


AFM的核心部件是力传感器,包括微悬臂和固定在其一端的针尖。根据物理原理,可以通过Cantilever检测力的变化,施加到Cantilever末端力的表达式为:


AFM的关键部分是力敏感元件和力敏感检测装置。因此,微悬臂和针尖是决定AFM灵敏度的核心。为了准确反映样品表面与针尖之间微弱相互作用力的变化,获得更真实的样品表面形状,提高AFM的灵敏度,微悬臂的设计通常要求满足以下条件:①力学弹性系数较低,使较小的力能产生可观察的位移;②较高的力学共振频率;③横向刚性高,针尖与样品表面的摩擦不会使其弯曲;④微悬臂长度尽可能短;⑤微悬臂有镜子或电极,可以通过光学、电容或隧道电流检测其动态位移;⑥针尖尽可能尖锐。


葛兰帕科技

AFM5300E真空样品仓满足先进的环境控制要求。在真空环境下,吸附的水和气体分子减少,因此可以准确测量样品的电磁特性,非常适合分析一些先端材料。图中所示的铁电薄膜漏电流观察应用,实现了真空环境下的高精度电流测量。


以上内容就是对扫描探针显微镜的使用测量介绍,想要了解更多关于产品和公司的情况可以关注我们 ,或者直接拨打13575736133咨询。

原子力显微镜
扫描探针显微镜
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